Орлов В.И. Feklisova O.V. Yakimov E.B.
Investigations of extended defect properties in plqastically deformed Si by the EBIC and LBIC methods
Reporter: Yakimov E.B.
| Abstracts file: | Орлов_Si.doc |
To reports list
Comments
| 6. | 28.03.2014 19:50 Anonymous comment |
| 5. | 28.03.2014 19:44 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям. |
| 4. | 28.03.2014 19:44 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям. |
| 3. | 28.03.2014 19:44 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям. |
| 2. | 28.03.2014 19:43 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям. |
| 1. | 28.03.2014 19:43 К сожалению, не пояснено (второе предложение) почему одинаковая "физика" приводит к разным изображениям. |